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国立慶州博物館 学術

X線分析

X-ray 촬영 이미지1

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X-ray 촬영 이미지2

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X-ray 촬영 이미지3

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X-ray 촬영 이미지4

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写真 1234 X-ray撮影

X線分析は、目に見えない内部構造や亀裂、腐食などの損傷の程度を知ることができる基礎資料を提供する。
X線が透過する程度は、物質の種類や厚さによって異なり、透過程度に伴う明暗差によって所蔵品の内部構造を把握してみることができる。

XRF(蛍光X線分析)

XRF 분석 이미지1

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XRF 분석 이미지2

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XRF 분석 이미지3

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XRF 분석 이미지4

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写真 1234 XRF(蛍光X線分析)

XRF分析装備を用いて所蔵品を構成する物質を分析し、所蔵品の材質や製作技法などを知ることが出来る。
X線を所蔵品に照射すると、その物質を構成する材質の固有蛍光X線が発生し、これを分析することで成分元素を把握することができる。

顕微鏡分析

현미경 촬영 이미지1

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현미경 촬영 이미지2

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현미경 촬영 이미지3

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현미경 촬영 이미지4

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写真 1234 顕微鏡分析

顕微鏡は、肉眼では分かりにくい部分を拡大して細かく観察できるため、遺物の表面や組織の大きさ、形態、加工痕、使用跡などが把握できる。

赤外線分析

적외선 분석 이미지1

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적외선 분석 이미지2

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적외선 분석 이미지3

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写真 123 赤外線分析

赤外線発生装置を利用して、肉眼では確認されない銘文や絵画文化財の下絵などを観察することができる。
可視光線より透過力が強い赤外線は彩色層を貫いて透明に見え、黒色のような物質に吸収されて黒く見える。

10:00 ~ 18:00

土曜日・日曜日・祝日は 1時間延長

  • 夜間延長開館 ~21:00

    (毎月最終水曜日、3月~12月の毎週土曜日)