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사진 1234 X-ray 촬영
X-선 분석은 눈에 보이지 않는 내부의 구조나 균열, 부식 등의 손상 정보를 알 수 있는 기초 자료를 제공한다. X-선이 투과되는 정도는 물질의 종류나 두께에 따라서 차이를 보여 투과 정도에 따른 명암차이를 통해서 소장품의 내부 구조를 파악해 볼 수 있다.
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사진 1234 XRF 분석
XRF 분석 장비를 이용해 소장품의 구성물질을 분석하여 소장품의 제질및 제작기법 등을 알 수 있다. X선을 소장품에 쪼이면 구성 재질에 따른 고유의 형광x선을 발생하여 이를 분석하여 성분 원소를 파악할 수 있다.
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사진 1234 현미경 촬영
현미경을 이용하여 육안으로 조사하기 어려운 부분을 확대하여 세밀하게 관찰할 수 있어 유물의 표면, 조직의 크기 및 형태, 가공흔적이나 사용 흔적 위치 등을 파악할 수 있다.
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사진 123 적외선 분석
적외선 발생장치를 이용하여 육안으로 확인되지 않는 명문이나 회화문화재의 밑그림 등을 관찰할 수 있다. 가시광선보다 투과력이 강한 적외선은 채색층을 관통하여 투명하게 보이며 검은색과 같은 물질에 흡수하여 검게 나타난다.